Гостьова лекція: “Методи форсайт дослідження: патентний аналіз, як метод форсайт дослідження”

Гостьова лекція: “Методи форсайт дослідження: патентний аналіз, як метод форсайт дослідження”

Автор:
32 32 people viewed this event.

⭐️Гостьова лекція в рамках курсу “Прогнозування ризиків і форсайт у міжнародній діяльності”

⏰Коли: 29 жовтня о 10:25

Тема лекції: Методи форсайт дослідження: патентний аналіз, як метод форсайт дослідження

👩🏻Спікер:
Анжеліка Римарчук – експерт 1 категорії експертизи промислових зразків підрозділу управління експертизи заявок на торговельні марки, промислові зразки та географічні зазначення Департаменту експертизи заявок на об’єкти промислової власності

На лекції ви дізнаєтесь❗️:
📍 що таке інновація?
📍 що таке інтелектуальна власність і навіщо необхідно патентувати свою розробку?
📍 які існують об’єкти інтелектуальної власності і як вони впливають на ринок в цілому?
📍 як знайти готовий патент/свідоцтво чи заявки, які в роботі як в нашій країні, так і в інших по національним (СІС,БД) та міжнародним базам даних (Мадрид, Глобальна ВОІВ, Гаазька та патенти на Винаходи) систем.
📍 які інновації в якій сфері очікуються в Україні для виходу із воєнної кризи.

Долучайтесь за посиланням⬇️
https://us02web.zoom.us/j/5833227640?pwd=dnQ2N1A0OENGS2Q0M1dpTmUvbS8xZz09

Щоб зареєструватися на цю подію, надішліть свої дані melnychuk.viktoriia@lll.kpi.ua

Реєстрація за допомогою електронної пошти: Gmail / AOL / Yahoo / Outlook

 

Date And Time

2024-10-29 @ 10:30 to
2024-10-29 @ 12:30
 

Розташування

Online event
 

Категорія події

Share With Friends

ЧАТ ДЛЯ АБІТУРІЄНТІВ https://t.me/FMM_KPI